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JDEQ-0001 Carrier Concentration Hall Effect Tester Semiconductor Industry Product Overview: Hall effect tester is used to measure the carrier concentration, mobility, resistivity, Hall coefficient and other ... Lire la suite
2022-09-22 16:41:40
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Semiconductor Materials Hall Effect Tester Carrier Concentration Measurement Product Overview: Hall effect tester is used to measure the carrier concentration, mobility, resistivity, Hall coefficient and other ... Lire la suite
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Mesure de résistivité de mobilité d'appareil de contrôle de Hall Coefficient Hall Effect Sensor
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Hall Coefficient Hall Effect Sensor Tester mobility resistivity measurement Product Overview: Hall effect tester is used to measure the carrier concentration, mobility, resistivity, Hall coefficient and other ... Lire la suite
2022-10-09 09:55:01
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À propos

GaN Epitaxial Wafer

le Fe de visage de 2inch GaN Epitaxial Wafer C a enduit le type position libre de SI

Le Fe a enduit GaN Substrates Resistivity > 10 le ⁶ Ω·Dispositifs RF de cm

Substrats SI-GaN autonomes de 2 pouces

Gaufrette sic épitaxiale

Plaquette épitaxiale SiC biseautée 150,0 mm + 0 mm/-0,2 mm 350,0 um ± 25,0 um

bord épitaxial de gaufrette de gaufrette de SiC de la forme en cristal 4H biseautant le ± 25.0um de 350.0um

CMP polonais optique de SI-visage de C-visage sic épitaxial de gaufrette de monocristal

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